Parametre a špecifikácia
- rozsah polohovacieho systému VersaSCAN Base (VS-BASE):
X: 100 mm
Y: 100 mm
Z: 100 mm - meraním získaná mapa môže reprezentovať rozloženie prúdu, impedancie, relatívnu pracovnú funkciu alebo topografiu
- k dispozícii sú nasledovné systémy:
- VS-SECM (Scanning ElectroChemical Microscope) - skenovací elektrochemický mikroskop (DC a AC), využíva bipotenciostatické meranie na hrote a vzorke
- VS-STYLUS - skenovací elektrochemický mikroskop konštantnej vzdialenosti založený na jedinečnej konštrukcii STYLUS sondy
- VS-LEIS (Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy) - lokalizovaná elektrochemická impedančná spektroskopia pre všetky aplikácie profitujúce z EIS meraní, kombinuje veľkú šírku pásma a vysokú presnosť napr. pre aplikáciu lokálneho SoC (State-of-Charge) merania alebo analýzu povrchových porúch
- VS-SVET (Scanning Vibrating Electrode Technique) - skenovanie vibračnými elektródami umožňuje získať mapu napäťového rozloženia napr. pre odhalenie koróznych oblastí
VS-SKP (Scanning Kelvin Probe) - skenovacia Kelvinova sonda t.j. mikroskop mapujúci anodický/katodický charakter vzorky nedeštruktívnym meraním relatívnej pracovnej funkcie, kedy vzorka a sonda sú oddelené vzduchovou medzerou - VS-SDC (Scanning Droplet Cell) - skenovacia bunka s kvapkovou elektródou ponúka elektrochemické meranie na riadenej kvapke tečúcej povrchom vzorky vylučujúce vplyv produktov reakcie na meranie
- VS-OSP (Non-contact Optical Surface Profiler) - bezkontaktný optický systém mapovania povrchu založený na laserovej technológii vhodný do kombinácie s inými technikami
- VesrsaSCAN integruje vlastnosti použitých meracích zariadení (potenciostaty VersaSTAT)
- k dispozícii je príslušenstvo ako testovacie elektrochemické bunky a zobrazovací systém
Súbory na stiahnutie a odkazy
Potrebujete poradiť?
Zavolajte nám na číslo +420 325 610 123 a požiadajte špecialistu v tejto oblasti.

