VersaSCAN Scanning Electrochemical Systems

    • platforma pre priestorovo rozlíšené merania v oblasti elektrochémie a materiálového výskumu 
    • umožňuje lokalizovať elektrochemické javy 
    • vysoké rozlíšenie a opakovateľnosť polohovania vďaka piezoelektrickým motorom 
    • jednotná platforma pre 7 rôznych techník, voľba techniky podľa zvoleného modelu/konfigurácie zariadenia 
    • záruka: 2 roky 
    Ametek Scientific Instruments
    Ďalšie parametre
    Cena na vyžiadanie
    Kat. č: VersaSCAN.w
    dostupnosť na vyžiadanie

    Výberu nezodpovedá žiadna položka.

    Parametre a špecifikácia

    • rozsah polohovacieho systému VersaSCAN Base (VS-BASE):
      X:  100 mm 
      Y:  100 mm  
      Z:  100 mm 
    • meraním získaná mapa môže reprezentovať rozloženie prúdu, impedancie, relatívnu pracovnú funkciu alebo topografiu 
    • k dispozícii sú nasledovné systémy: 
      • VS-SECM (Scanning ElectroChemical Microscope) - skenovací elektrochemický mikroskop (DC a AC), využíva bipotenciostatické meranie na hrote a vzorke 
      • VS-STYLUS - skenovací elektrochemický mikroskop konštantnej vzdialenosti založený na jedinečnej konštrukcii STYLUS sondy 
      • VS-LEIS (Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy) - lokalizovaná elektrochemická impedančná spektroskopia pre všetky aplikácie profitujúce z EIS meraní, kombinuje veľkú šírku pásma a vysokú presnosť  napr. pre aplikáciu lokálneho SoC (State-of-Charge) merania alebo analýzu povrchových porúch 
      • VS-SVET (Scanning Vibrating Electrode Technique) - skenovanie vibračnými elektródami umožňuje získať mapu napäťového rozloženia napr. pre odhalenie koróznych oblastí 
        VS-SKP (Scanning Kelvin Probe) - skenovacia Kelvinova sonda t.j. mikroskop mapujúci anodický/katodický charakter vzorky nedeštruktívnym meraním relatívnej pracovnej funkcie, kedy vzorka a sonda sú oddelené vzduchovou medzerou 
      • VS-SDC (Scanning Droplet Cell) - skenovacia bunka s kvapkovou elektródou ponúka elektrochemické meranie na riadenej kvapke tečúcej povrchom vzorky vylučujúce vplyv produktov reakcie na meranie 
      • VS-OSP (Non-contact Optical Surface Profiler) - bezkontaktný optický systém mapovania povrchu založený na laserovej technológii vhodný do kombinácie s inými technikami 
    • VesrsaSCAN integruje vlastnosti použitých meracích zariadení (potenciostaty VersaSTAT) 
    • k  dispozícii je príslušenstvo ako testovacie elektrochemické bunky a zobrazovací systém 

    Súbory na stiahnutie a odkazy

    Potrebujete poradiť?

    Zavolajte nám na číslo +420 325 610 123 a požiadajte špecialistu v tejto oblasti.