ModuLab XM MTS Materials Test System

    • systém na testovanie materiálov
    • konfigurovateľná platforma na testovanie vysokých odporov a impedancií, ako sú dielektriká a izolačné materiály, alebo naopak na testovanie vysoko vodivých materiálov
    • ponúka analýzu v časovej (DC) aj frekvenčnej (AC) oblasti
    • výber testu, riadenie merania a zobrazenie výsledkov sa riadi intuitívnym PC SW XM-studio
    • zariadenia ModuLab vo verzii XM ECS (Xtreme Measurement Electrochemical Test System) je určená na výskum materiálov, ale možno ju rozšíriť aj na elektrochemické alebo fotoelektrochemické experimenty
    • záruka: 2 roky
    Solartron Analytical
    Ďalšie parametre
    Cena na vyžiadanie
    Kat. č: ModuLabXMMTS.w
    dostupnosť na vyžiadanie

    Výberu nezodpovedá žiadna položka.

    Parametre a špecifikácia

    max. veľkosť meranej impedancie >100 TΩ (MAT + MHV100 + MFA + MREF)
    min. veľkosť meranej impedancie 10 μΩ (MAT +MBST 2 A + MREF)
    max. rozsah napätia

    ±8 V (MAT)
    ±100 V (MHV100)

    max. rozlíšenie výstupného napätia

    400 μV (≥ 3 V, MAT)
    150 μV (< 3 V, MAT)

    max. prúdový rozsah

    ±100 mA (MAT)
    ± 2 A (MBST 2 A)

    maximálne prúdové rozlíšenie

    1,5 pA (MAT)
    0,15 fA (MFA)

    vzorkovacia frekvencia

    1 MS/s (MAT)
    40 MS/s (MFRA)

    maximálna frekvencia generovania vzoriek 64 MS/s (MAT)
    rozsah frekvenčnej analýzy 10 μHz až 1MHz (MFRA)
    • režimy dvoj- alebo štvorvodičového merania
    • prístroj v spojení so softvérom pre PC umožňuje generovať automatické sekvencie DC a AC techník:
      • I-V merania na charakterizáciu elektronických a dielektrických materiálov
      • P-E merania (polarizácia/elektrické pole) na charakterizáciu feroelektrických materiálov
      • vysokorýchlostné pulzné merania pre elektronické a dielektrické materiály
      • testy s krokovou a plynulou (analógovou) rampou
      • vyhodnotenie impedancie, admitancie, permitivity/kapacity elektrického modulu
      • C-V merania (kapacita v závislosti od DC napätia), Mott-Schottkyho analýza
    • riadiace moduly:
      • XM MAT 1 MHz - na analýzu v časovej oblasti
      • XM MFRA 1MHz - na meranie striedavého prúdu
    • slave moduly na úpravu parametrov signálu:
      • XM MHV100 - možnosť vysokého napätia (100 V)
      • XM MFA - možnosť nízkeho prúdu
      • XM MREF - modul na zvýšenie presnosti analýzy striedavého prúdu
      • XM MBST 2A - možnosť vysokého prúdu (2 A)
    • viackanálový systém možno nakonfigurovať aj v kombinácii s elektrochemickou zostavou, pričom súbežné merania na kanáloch možno ovládať samostatne
    • moduly sú typu "plug and play"
    • SW XM-studio ponúka celý rad možností analýzy údajov, ako je fitovanie krivky, vyhodnotenie FF (Fill Factor)
    • multisínová analýza FFT urýchľuje test vykonávaný v celom frekvenčnom pásme
    • harmonická intermodulačná analýza
    • dostupnosť príslušenstva (Sample Holder, Cryostat...)

    Súbory na stiahnutie a odkazy

    Potrebujete poradiť?

    Zavolajte nám na číslo +420 325 610 123 a požiadajte špecialistu v tejto oblasti.