NSG 5071 Inductive Switch Transient Test Circuit

NSG 5071 je navrhnutý presne podľa EMC-CS-2009.1 pre skúšobné impulzy CI 220 A1, A2-1, A2-2, C1, C2 a RI 130 pomocou skúšobného obvodu indukčného/reléového generátora prechodových javov. V tomto skúšobnom obvode, ktorý využíva rovnaký typ relé, je NSG 5071 vybavený aj vlnovým priebehom CI 260 F. Tento skúšobný obvod je definovaný v prílohe F pre impulzy A, C a RI 130 a na obrázku 19-10 pre CI 260 Waveform F.

Základnou filozofiou tohto skúšobného obvodu je lepšie reprodukovať skutočné spínacie prechodové javy. Reprodukovateľnosť tohto skúšobného obvodu nie je založená na výstupných charakteristikách ako pri tradičnom testovaní odolnosti v automobilovom priemysle, ale na pevnej konštrukcii generátora s použitím niekoľkých vopred definovaných komponentov. Mnohé z týchto súčiastok sú v norme definované ako kritické bez možnosti náhrady. Tieto komponenty sa používajú v súlade s požiadavkami normy.

Skúšobný obvod je založený predovšetkým na relé Potter a Brumfield a dvoch induktoroch od spoločnosti Osborne Transformer. Relé sa používa tromi spôsobmi: na vypnutie napätia na induktoroch, čím sa spôsobia veľké prechodné indukčné spätné rázy, na samovybudenie a v prípade F-priebehu na náhodné testovanie poruchy.

Prístroj NSG 5071 je vhodný na použitie požadovaného komponentu v rôznych konfiguráciách podľa normy, aby poskytoval jediný výstup do EUT a čo najviac uľahčil aplikáciu.