SolarLab XM Photoelectrochemical Test System

    • SolarLab XM obsahuje potenciostat, analyzátor frekvenčnej odozvy (FRA) a fotoelektrochemický modul
    • primárne je určený na výskum solárnych článkov a fotovoltaiky (Perovskite Solar Cell, Dye Sensitized Solar Cell)
    • prístroj možno použiť aj na vývoj fotoelektrochemických systémov vo viditeľnom spektre (napr. fotodegradácia vody oxidom železa)
    • patrí do rodiny kompaktných prístrojov Apps-XM (Application specific eXtreme Measurement) založených na technológiách pokročilej platformy Modulab XM
    • záruka: 2 roky
    Solartron Analytical
    Ďalšie parametre
    Cena na vyžiadanie
    Kat. č: SolarLab XM.w
    dostupnosť na vyžiadanie

    Výberu nezodpovedá žiadna položka.

    Parametre a špecifikácia

    OPTIKA:
    Rozsah vlnových dĺžok 350 nm - 1100 nm
    Rozsah intenzity 6 dekád (s ND filtrom)
    Maximálna divergencia lúča
    Max. priemer lúča (veľkosť bunky) 1 cm
    Max. budiaci prúd LED 10 A
    Max. frekvencia budenia LED (IMPS a IMVS) 250 kHz
    Potenciostat (PSTAT 1 MS/s):
    Napäťový rozsah (compliance / polarization) ±8 V
    Rozlíšenie napätia (RE) 1 μV
    Rozsah prúdu ±300 mA
    Rozlíšenie prúdu (WE) 1,5 pA
    Analyzátor frekvenčnej odozvy (FRA 1 MHz):
    Maximálna vzorkovacia frekvencia 40 MS/s
    Rozsah frekvenčnej analýzy 10 μHz až 1 MHz
    • základom zostavy je karta PhotoEchem, ktorá pracuje so zostavou Optical Bench vrátane LED zdroja svetla, filtrov, šošoviek, rozdeľovača lúča 50:50, fotodetektora, držiaka vzorky
    • rýchly Si fotodetektor so siedmimi stupňami zosilnenia a meraniami v rozsahu 6 dekád intenzity svetla
    • rad techník merania vo frekvenčnej a časovej oblasti (IMPS, IMVS, Impedance, PhotoVoltage Decay, Charge Extraction, I-V)
    • automatická analýza na výpočet efektívnych difúznych koeficientov a životnosti elektrónov
    • k dispozícii je aj kompletný súbor elektrochemických techník (cyklická voltampérometria, chrono metódy, galvanické impedančné metódy a striedavá voltampérometria)
    • vynikajúce parametre analýzy frekvenčnej odozvy (FRA) vrátane harmonickej analýzy a multisínusových techník
    • dvoj-, troj- alebo štvorvodičové obvody potenciostatu so štyrmi pomocnými kanálmi, ktoré umožňujú 12-vodičové merania DC/impedancie (charakterizácia anódy/katódy atď.)
    • PC SW XM-studio s pripravenými šablónami a pohodlným ovládaním od začiatku testu cez analýzu údajov až po vytvorenie správy
    • vynikajúca tepelný management svetelných zdrojov zabezpečujúca ich dlhodobú stabilitu
    • k dispozícii je široká škála monochromatických LED s vysokým jasom
    • možnosť IPCE (Incident Photon to Current Efficiency)
    • k dispozícii je ďalšie príslušenstvo (Power Booster, Corrosion Cell, Flat Cell, Rotator)

    Súbory na stiahnutie a odkazy

    Potrebujete poradiť?

    Zavolajte nám na číslo +420 325 610 123 a požiadajte špecialistu v tejto oblasti.